Karakterisering af overflader
På Teknologisk Institut findes faciliteter til analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver.
Metrologilaboratoriet - CT scanning
Teknologisk Institut er anerkendt for at have den største tekniske kompetence inden for metrologi på en række områder og er af Sikkerhedsstyrelsen udpeget som nationalt metrologilaboratorium.
Batterilaboratorium
På Teknologisk Institut kan virksomheder få testet batteriers brugsmønstre og temperaturer og måle batteriers spændingskurver, sikkerhed og degradering for at beregne levetiden.
Skatterometriske og Ellipsometriske målinger
DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.
Kalibrering af fiberoptiske instrumenter
DFM har faciliteter til kalibrering af instrumenter til analyse af fiberoptiske netværk, singlemode OTDR og fiberoptiske attenuatorer
Kamerakalibrering
DFM udbyder rumlig kalibrering af billeddannende kameraer, samt spektral kalibrering af hyperspektrale kameraer og farvesensorer