Laboratorie til avanceret materialekarakterisering
FORCE Technologys materialelaboratorie råder over noget at det mest avancerede udstyr til avanceret overfladekarakterisering med tilhørende materialeanalyser.
Identifikation af fremmed materiale i produkter
Teknologisk Institut har stor erfaring med undersøgelser, der identificerer fremmed materiale i produkter. Vi undersøger mere end 1.000 prøver af fremmed materiale hvert år.
Skatterometriske og Ellipsometriske målinger
DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.
Overflademåling på mikro- og nanometerskala
DFM tilbyder kalibrering af gitterperioder og stephøjder på overflader på mikrometer- og nanometerskala samt en alsidig karakterisering af overfladers optiske, elektriske og mekaniske egenskaber.
Brændselscelleteknologi
Teknologisk Institut arbejder med at udvikle og implementere mindre brændselsceller i produkter, der kræver høj energitæthed og har et effektforbrug på under 1 Watt.
Akkrediteret EMC, testfaciliteter - radiodøde rum
FORCE Technology har elektromagnetisk skærmede/radiodøde rum til brug for emissionsmålinger, immunitetstest og ledningsbårne tests af elektrisk udstyr.