
Kamerakalibrering
DFM udbyder rumlig kalibrering af billeddannende kameraer, samt spektral kalibrering af hyperspektrale kameraer og farvesensorer

Karakterisering af overflader
På Teknologisk Institut findes faciliteter til analyse og karakterisering af den yderste overflade på materialeprøver.

Skatterometriske og Ellipsometriske målinger
DFM tilbyder skatterometriske og ellipsometriske opmålinger af tyndfilm med tykkelser mellem 50 nm og 100 µm, samt opmåling af gitre med perioder fra 300 nm til 1000 nm og højder fra 100 nm til 2000 nm.

Faciliteter til måleudstyrskalibrering
På akkrediteterede laboratorier i Brøndby og Vejen foretager FORCE Technology en lang række standardkalibreringer og verifikationer, ligesom her rådgives om kalibrering og måleudstyr.

Laboratorie til printet elektronik
Teknologisk Institut printer blæk til printet elektronik på det digitale udstyr F-series fra Ceradrop.

Lugtlaboratoriet
Lugtlaboratoriet er akkrediteret til prøvetagning, måling og analyse af lugtemissioner fra industri, anlæg, restaurationer og andre virksomheder, der udleder lugt.