GTS-institutterne bringer ny teknologisk viden i spil i danske virksomheder

Læs mere

Danmarks teknologiske infrastruktur

Testfacilitet til fejlanalyse af mikrochips

Som en del af FORCE Technologys faciliteter i Hørsholm (tidligere DELTA) ligger en af nordens største, uafhængige faciliteter til fejlanalyse af mikrochips/halvledere. Fejlanalyse bruges, hvis en mikrochip har fejlet og der er behov for at finde fejlens årsag. 

Testfaciliteten består samlet af en lang række konkrete faciliteter som renrum og røntgenudstyr, og kan udføre tests ved følgende teknikker: 

  • Microsectioning
  • Real time X-ray
  • Hot spot analysis
  • Solderability tests
  • Sub-micron probing
  • Chemical and plasma etching
  • Scanning electron microscopy
  • Scanning acoustic microscopy
  • Energy dispersive ana­lysis of X-ray
  • Gross and fine leak hermeticity testing
  • Bright/dark field, differential interference, light sectioning, and stereo microscopy
  • Environmental testing (tempe­rature, shock, humidity, corrosion, vibration)

Testfaciliteten er bl.a. udstyret med automatisk testudstyr (ATE) og høj-temperatur testere: 

  • Component testers (ATE)
  • Wafer probers
  • Component handlers
  • Dynamic burn-in chambers


Læs mere



Del med dine kolleger
Fra samme kategori

Industriens plast- og kompositlaboratorie

Industriens plast- og kompositlaboratorium giver virksomheder adgang til faciliteter og tværfaglige kompetencer, der kan understøtte produktinnovation indenfor plast, elastomerer og kompositter.

Tribologi - friktion, mekanisk slid og smøring

Teknologisk Institut har faciliteter, hvor der kan arbejdes med belægninger til de fleste former for produktionsværktøjer, maskindele og færdige komponenter.

Kalibrering af fiberoptiske instrumenter

DFM har faciliteter til kalibrering af instrumenter til analyse af fiberoptiske netværk, singlemode OTDR og fiberoptiske attenuatorer

Augmented reality-teknologier

Flere manuelle processer i produktionen kan med fordel støttes med Augemented reality (AR). Hos Alexandra Instituttet kan virksomheder teste teknologiens anvendelighed af.

Måling af Relative Intensity Noise (RIN)

DFM tilbyder udmåling af Relative Intensity Noise (RIN), en parameter til karakterisering af lasere. RIN er den relative optisk effekttæthed over et specificeret frekvensområder, opgivet i dBc/Hz

Batterilaboratorium

På Teknologisk Institut kan virksomheder få testet batteriers brugsmønstre og temperaturer og måle batteriers spændingskurver, sikkerhed og degradering for at beregne levetiden.